ГлавнаяРасписание вебинаров ⟶ Усовершенствованный спектрометр электрической подвижности SMPS для контроля частиц с диаметром от 1 нм
     
   
     
     
 

Новости

 
     
 
     
 

Усовершенствованный спектрометр электрической подвижности SMPS для контроля частиц с диаметром от 1 нм

Приглашаем посетить Интернет-семинар «Усовершенствованный спектрометр электрической подвижности SMPS для контроля частиц с диаметром от 1 нм», который состоится 20 октября 2016 года с 10.30 до 11.30.

На семинаре будет рассказано о новой модели спектрометра SMPS, позволяющей контролировать частицы с диаметром от 1 нм, и о возможности модернизации ранее выпущенных спектрометров SMPS до уровня SMPS 1 нм

Семинар проходит при участии специалиста Европейского офиса компании TSI Люции Бустин.
Язык семинара - английский и русский. Участие - бесплатное.

Для участия в семинаре потребуется только выход в Интернет и наличие звуковых динамиков (наушников).
С целью подтверждения участия просим Вас направить заявку в срок до 20 октября 2016 года, после чего Вам будет выслана инструкция по участию в семинаре.
Заявки просим высылать по электронной почте info.tsirussia@gmail.com с темой письма «Семинар «Усовершенствованный спектрометр SMPS». В заявке необходимо указать наименование организации, ФИО и контактные данные участника.